发明名称 用以检测光学元件品质之检测方法及装置
摘要 本案系关于一种用以检测光学元件品质之检测方法及装置,至少包含下列步骤与装置:由一光源产生装置处产生一点状光源;输出该点状光源,并使其穿经一光学镜头组,以形成一第一光学影像;于该第一光学影像中具有一阴影区块时,调整该光学镜头组之位置状态,以使该点状光源于穿经遂行调整动作之该光学镜头组后,而形成一第二光学影像;以及比较该第一与第二光学影像,以判断该阴影区块是否因应该光学镜头组之调整动作而同步移动。
申请公布号 TW200641344 申请公布日期 2006.12.01
申请号 TW094116423 申请日期 2005.05.20
申请人 致伸科技股份有限公司 发明人 秦厚敬;陈祥男
分类号 G01N21/88(2006.01) 主分类号 G01N21/88(2006.01)
代理机构 代理人 陈志明
主权项
地址 台北市内湖区瑞光路669号