发明名称 | 用以检测光学元件品质之检测方法及装置 | ||
摘要 | 本案系关于一种用以检测光学元件品质之检测方法及装置,至少包含下列步骤与装置:由一光源产生装置处产生一点状光源;输出该点状光源,并使其穿经一光学镜头组,以形成一第一光学影像;于该第一光学影像中具有一阴影区块时,调整该光学镜头组之位置状态,以使该点状光源于穿经遂行调整动作之该光学镜头组后,而形成一第二光学影像;以及比较该第一与第二光学影像,以判断该阴影区块是否因应该光学镜头组之调整动作而同步移动。 | ||
申请公布号 | TW200641344 | 申请公布日期 | 2006.12.01 |
申请号 | TW094116423 | 申请日期 | 2005.05.20 |
申请人 | 致伸科技股份有限公司 | 发明人 | 秦厚敬;陈祥男 |
分类号 | G01N21/88(2006.01) | 主分类号 | G01N21/88(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 陈志明 | |
主权项 | |||
地址 | 台北市内湖区瑞光路669号 |