发明名称 | 半导体元件及其制造方法 | ||
摘要 | 一种半导体元件的制造方法,此方法系先提供一基底,基底上至少已形成有一P型金氧半导体电晶体以及一N型金氧半导体电晶体。于基底上形成介电层,至少覆盖住P型金氧半导体电晶体以及N型金氧半导体电晶体,此介电层具有第一拉伸应力。之后,于基底上形成光阻层,暴露出P型金氧半导体电晶体上之介电层。接着,以光阻层为罩幕,对P型金氧半导体电晶体上之介电层进行离子植入制程,以使此部分之介电层具有第二拉伸应力,其中,第二拉伸应力小于第一拉伸应力。然后,再移除光阻层。 | ||
申请公布号 | TW200642037 | 申请公布日期 | 2006.12.01 |
申请号 | TW094117398 | 申请日期 | 2005.05.27 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 陈能国;蔡腾群 |
分类号 | H01L21/822(2006.01) | 主分类号 | H01L21/822(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |