发明名称 半导体元件及其制造方法
摘要 一种半导体元件的制造方法,此方法系先提供一基底,基底上至少已形成有一P型金氧半导体电晶体以及一N型金氧半导体电晶体。于基底上形成介电层,至少覆盖住P型金氧半导体电晶体以及N型金氧半导体电晶体,此介电层具有第一拉伸应力。之后,于基底上形成光阻层,暴露出P型金氧半导体电晶体上之介电层。接着,以光阻层为罩幕,对P型金氧半导体电晶体上之介电层进行离子植入制程,以使此部分之介电层具有第二拉伸应力,其中,第二拉伸应力小于第一拉伸应力。然后,再移除光阻层。
申请公布号 TW200642037 申请公布日期 2006.12.01
申请号 TW094117398 申请日期 2005.05.27
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 陈能国;蔡腾群
分类号 H01L21/822(2006.01) 主分类号 H01L21/822(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号