发明名称 | 半导体装置之制造方法 | ||
摘要 | 一种半导体装置之制造方法,主要是在矽基板下方形成至少一层以上之第一图案化之高应力层,接着形成半导体装置于该基板上,以及形成至少一层以上之第二图案化之高应力层于该半导体装置上。根据本发明之方法,利用图案化之高应力材料层之应力同时改善同一片晶圆上的PMOS电晶体和NMOS电晶体之特性,进而提升载子的移动率,以使改善电晶体的输出特性。 | ||
申请公布号 | TW200641999 | 申请公布日期 | 2006.12.01 |
申请号 | TW094116605 | 申请日期 | 2005.05.20 |
申请人 | 财团法人工业技术研究院 | 发明人 | 林哲歆;裴静伟;刘致为 |
分类号 | H01L21/3213(2006.01) | 主分类号 | H01L21/3213(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 许世正 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹县竹东镇中兴路4段195号 |