发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 一种半导体装置之制造方法,主要是在矽基板下方形成至少一层以上之第一图案化之高应力层,接着形成半导体装置于该基板上,以及形成至少一层以上之第二图案化之高应力层于该半导体装置上。根据本发明之方法,利用图案化之高应力材料层之应力同时改善同一片晶圆上的PMOS电晶体和NMOS电晶体之特性,进而提升载子的移动率,以使改善电晶体的输出特性。
申请公布号 TW200641999 申请公布日期 2006.12.01
申请号 TW094116605 申请日期 2005.05.20
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 林哲歆;裴静伟;刘致为
分类号 H01L21/3213(2006.01) 主分类号 H01L21/3213(2006.01)
代理机构 代理人 许世正
主权项
地址 新竹县竹东镇中兴路4段195号