| 主权项 |
1.一种平面显示面板完整性检测单元,包含:一影像撷取单元,系设置于与一平板待测物之一第一面同侧位置;及一光源单元包含至少二发光元件,该二发光元件之一设置于与该第一面同侧之位置,该二发光元件之另一设置于与该平板待测物之一第二面同侧位置,其中该第二面平行该第一面,且互为相对位置。2.如申请专利范围第1项所述之平面显示面板完整性检测单元,其中,该二发光元件为雷射二极体、发光二极体、灯泡、灯管、卤素灯或金属灯之任一。3.如申请专利范围第1项所述之平面显示面板完整性检测单元,其中,该二发光元件发出不同特性的光线。4.如申请专利范围第3项所述之平面显示面板完整性检测单元,其中,该些光线为同轴光或低角光之任一。5.一种平面显示面板之完整性检测装置,包含:一影像撷取单元,系设置于该平面显示面板之上方;一移载单元,系用来移载该平面显示面板;一光源单元,包含:至少二发光元件,一设置于该平面显示面板之上方,一设置于该平面显示面板之另一方;及一影像分析单元,系与该影像撷取单元相连接,并接收且分析该平面显示面板之影像。6.如申请专利范围第5项所述之平面显示面板之完整性检测装置,其中,该发光元件为雷射二极体、发光二极体、灯泡、灯管、卤素灯或金属灯之任一。7.如申请专利范围第5项所述之平面显示面板之完整性检测装置,其中,该移载单元更包含一旋转结构,驱动该平面显示面板旋转至预定角度。8.如申请专利范围第5项所述之平面显示面板之完整性检测装置,其中,该二发光元件发出不同特性的光线。9.如申请专利范围第8项所述之平面显示面板之完整性检测装置,其中,该些光线系为同轴光或低角光之任一。图式简单说明:第1图为已知技术之平面显示面板完整性检测方式示意图。第2图为以本创作概念实施之平面显示面板完整性检测装置示意图。 |
