发明名称 微型二维条码及其判读方法
摘要 本案系关于一种微型二维条码,其系以微小区域存在于物体之表面,该微型二维条码隐含特定资讯供判读,其包括:方向校正线,其系由相互垂直之两线段所组成;以及编码区,系置于该方向校正线中,其具有N行及班列以组成一NxM矩阵,该NxM矩阵中包括一检查位元点,以及(NxM)-1编码位元点;俾上述(NxM)-1编码位元点所编码之资讯,可藉由一判读方法判读后输出。此外,本案亦揭露一种微型二维条码之判读方法。
申请公布号 TWI267787 申请公布日期 2006.12.01
申请号 TW094113876 申请日期 2005.04.29
申请人 普格科技股份有限公司 发明人 丁明雄
分类号 G06K19/06(2006.01) 主分类号 G06K19/06(2006.01)
代理机构 代理人 林文烽 台北市大安区罗斯福路2段49号12楼
主权项 1.一种微型二维条码,其系以微小区域存在于物体之表面,该微型二维条码隐含特定资讯供判读,其包括:一方向校正线,其系由相互垂直之两线段所组成;以及一编码区,系置于该方向校正线中,其具有N行及M列以组成一NxM矩阵,该NxM矩阵中包括一检查位元点,以及(NxM)-1编码位元点;俾上述(NxM)-1编码位元点所编码之资讯,可藉由一判读方法判读后输出。2.如申请专利范围第1项所述之微型二维条码,其中该编码区具有3行及3列。3.如申请专利范围第2项所述之微型二维条码,其中该编码区具有八个编码位元点,其最低编码位元点于第1行第1列,最高编码位元点于第3行第2列。4.如申请专利范围第1项所述之微型二维条码,其中该检查位元点系为一极性检查位元,且其系位于第3行第3列位置。5.如申请专利范围第1项所述之微型二维条码,其中该编码区系以空白表示"0",以涂黑表示"1"。6.如申请专利范围第1项所述之微型二维条码,其中该方向校正线之两端进一步具有一白边,该方向校正线含该白边之长度系为0.896毫米。7.如申请专利范围第6项所述之微型二维条码,其中该编码区之两端进一步具有一白边,该编码区含该白边之长度系为0.896毫米。8.如申请专利范围第1项所述之微型二维条码,其中该方向校正线之垂直线段之宽度系为0.04~0.07毫米,方向校正线之水平线段之高度系为0.03 ~0.06,另毫米编码区之每一位元点之高度为0.04~0.07毫米,宽度为0.04~0.07毫米,每一位元点之间隔为0.12~0.15毫米,第1行之位元点与垂直线段之间隔为0.20~0.23毫米,第3列之位元点与水平线段之间隔为0.21~0.24毫米。9.如申请专利范围第1项所述之微型二维条码,其中该方向校正线之垂直线段至该第3列位元点最右端之宽度为0.652毫米,该方向校正线之水平线段至该第1行位元点最顶端之高度为0.652毫米。10.一种微型二维条码之判读方法,其包括下列步骤:以一取像装置读入一含微型二维条码之图形;旋转校正该图形;对该图形执行交叉校正X轴;对该图形执行交叉校正Y轴;对该图形执行定位校正;对该图形执行二値化;以及对该二値化结果读出编码。11.如申请专利范围第10项所述之微型二维条码之判读方法,其中该取像装置系为一CMOS感应器。12.如申请专利范围第11项所述之微型二维条码之判读方法,其中该微型二维条码系存在于物体上,且该微型二维条码上隐含特定资讯供判读。13.如申请专利范围第12项所述之微型二维条码之判读方法,其中该微型二维条码系以微小区域存在于物体之表面,该微型二维条码隐含特定资讯供判读,其包括:一方向校正线,其系由相互垂直之两线段所组成;以及一编码区,系置于该方向校正线中,其具有N行及M列以组成一NxM矩阵,该NxM矩阵中包括一检查位元点,以及(NxM)-1编码位元点。14.如申请专利范围第13项所述之微型二维条码之判读方法,其中该编码区具有3行及3列,且该编码区具有八个编码位元点,其最低编码位元点于第1行第1列,最高编码位元点于第3行第2列,该检查位元点系为一极性检查位元,且其系位于第3行第3列位置。15.如申请专利范围第13项所述之微型二维条码之判读方法,其中该编码区系以空白表示"0",以涂黑表示"1"。16.如申请专利范围第13项所述之微型二维条码之判读方法,其中该方向校正线之两端进一步具有一白边,该方向校正线含该白边之长度系为0.896毫米。17.如申请专利范围第16项所述之微型二维条码之判读方法,其中该编码区之两端进一步具有一白边,该编码区含该白边之长度系为0.896毫米。18.如申请专利范围第13项所述之微型二维条码之判读方法,其中该方向校正线之垂直线段之宽度系为0.04 ~0.07毫米,方向校正线之水平线段之高度系为0.03~0.06,另毫米编码区之每一位元点之高度为0.04~0.07毫米,宽度为0.04~0.07毫米,每一位元点之间隔为0.12~0.15毫米,第1行之位元点与垂直线段之间隔为0.20~0.23毫米,第3列之位元点与水平线段之间隔为0.21~0.24毫米。19.如申请专利范围第13项所述之微型二维条码之判读方法,其中该方向校正线之垂直线段至该第3列位元点最右端之宽度为0.652毫米,该方向校正线之水平线段至该第1行位元点最顶端之高度为0.652毫米。图式简单说明:图1为一示意图,其绘示本案一较佳实施例之微型二维条码的示意图。图2a~c为示意图,其分别绘示本发明一较佳实施例之编码区2之最低编码位元点、第4编码位元点及最高编码位元点配置示意图。图3a~c为示意图,其分别绘示本发明一较佳实施例之检查位元点22采用奇同位编码时,其编码位元点21及检查位元点22之配置示意图。图4a~b为示意图,其分别绘示本发明一较佳实施例之微型二维条码之实际尺寸示意图。图5为一示意图,其绘示本案一较佳实施例之微型二维条码之判读方法之流程示意图。
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