| 主权项 |
1.一种利用视觉模型检测平面显示器之方法,该方法步骤包括有:产生一待测面板图像,系由一取像系统撷取该待测面板图像产生;产生一参考图像,系由一背景模拟产生;产生一辨识流程,系将该待测面板图像与该参考图像经一差异辨识产生系统产生该辨识流程;产生一检测图,系结合该辨识流程产生之测试资讯产生之;产生一检测値,系将该辨识流程产生之测试资讯取一平均値产生;以及判断一该平面显示器之优劣,系利用该检测图与该检测値作为该显示器之品质评断。2.如申请专利范围第1项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该取像系统为一电荷耦合元件(CCD)或一金氧互补半导体(CMOS)等感光元件。3.如申请专利范围第1项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该产生该待测面板图像之步骤后,有一调整撷取图像步骤,该调整步骤至少包括有:撷取该待测面板图像,系以一电荷耦合元件(CCD)或一金氧互补半导体(CMOS)等感光元件达成;校正该待测面板图像,如调整该待侧面板图像像差、消除杂讯等;以及转换该待测面板图像,系将显示器图像转换成独立于该检测平面显示器装置之影像。4.如申请专利范围第1项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该参考图像可以为一均匀的背景,可为人可以接受的不均匀背景图像,亦可由该取像系统本身所产生的不均匀图像。5.如申请专利范围第1项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该辨识流程包括有:前置处理该待测面板图像,系包括找出该待测面板图像与该参考图像之边界,撷取属于该待测面板之范围、该待侧面板图像大小调整,边界补偿,并可模拟检测环境之环境光,再加以修正等;估计该待测面板图像之资讯,系导入复数个流程之参数,包括:光适应修正(light adaptation)、金字塔解构(Pyramid Decomposition)、对比计算、对比敏感度过滤、倾斜效应修正、孔径修正;与频道过滤(ChannelFilter);以及整合该待测面板图像之资讯,系撷取该前置处理与该估计图像资讯步骤中该待测面板图像与该参考图像的图像资讯,考虑各参数间的交互影响,作进一步修正。6.如申请专利范围第5项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该辨识流程中之前置处理步骤流程包括有:侦测该待测面板图像之边缘;修正该待测面板图像大小;补偿边界效应;以及修正环境参数,如消弭环境光源给予该检测步骤的影响。7.如申请专利范围第5项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该辨识流程中之估计图像资讯步骤流程包括有:光适应修正,系调整人眼对光之适应,依一视觉模型给予人眼适应调整,适时反映人眼对辉度、亮度等的适应。解构该待测面板图像以产生不同尺度的影像,其系以金字塔解构(Pyramid Decomposition)达成;算出该待测面板图像之各种尺度影像的对比値;修正该待测面板图像之对比敏感度,系依照每个人对不同环境、空间频率下有不同的对比敏感度修正该对比値;修正该待测面板图像之倾斜效应;修正对该待测面板图像视角大小敏感度的不同;以及修正针对图像解析度、显示频率之差异。8.如申请专利范围第1项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该辨识流程可导入一观点条件(Viewing Condition),与一模型调校步骤。9.如申请专利范围第1项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该检测图为一最小可觉差异(JND)图。10.如申请专利范围第1项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该检测値为一最小可觉差异(JND)値。11.如申请专利范围第1项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该平均値系以一Minkowskipooling平均値方法产生。12.如申请专利范围第1项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中由该检测图中可得知人眼感受到该平面显示器中瑕疵差异最大的区域。13.一种利用视觉模型检测平面显示器之方法,该方法步骤包括有:产生一待测面板图像,系由一取像系统撷取该待测面板图像产生;校正该待测面板图像;产生一参考图像,系由一背景模拟产生;产生一辨识流程,系将该待测面板图像与该参考图像经一差异辨识产生系统产生该辨识流程,该辨识流程包括有;前置处理该待测面板图像,系包括找出该待测面板图像与该参考图像之边界,撷取属于该待测面板之范围、该待侧面板图像大小调整,补偿边界效应,并可模拟检测环境之环境光,再加以修正等;估计该待测面板图像资讯,系导入复数个流程之参数,包括:光适应修正(light adaptation)、金字塔解构(Pyramid Decomposition)、对比计算、对比敏感度过滤、倾斜效应修正、孔径修正;与频道过滤(Channel Filter):整合该待测面板图像资讯,系撷取该前置处理与该估计图像资讯步骤中该待测面板图像与该参考图像的图像资讯,考虑各参数间的交互影响,作进一步修正。产生一检测图,系结合该辨识流程产生之测试资讯产生之;产生一检测値,系将该辨识流程产生之测试资讯取一平均値产生;以及判断一该平面显示器之优劣,系利用该检测图与该检测値作为该显示器之品质评断。14.如申请专利范围第13项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该取像系统为一电荷耦合元件(CCD)或一金氧互补半导体(CMOS)等感光元件。15.如申请专利范围第13项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该参考图像可以为一均匀的背景,可为人可以接受的不均匀背景图像,亦可由该取像系统本身所产生的不均匀图像。16.如申请专利范围第13项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该辨识流程中之前置处理步骤流程包括有:侦测该待测面板图像之边缘;修正该待测面板图像大小;补偿边界效应;以及修正环境参数,如消弭环境光源给予该检测步骤的影响。17.如申请专利范围第13项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该辨识流程中之估计图像资讯步骤流程包括有:调整人眼适应,系依一视觉模型给予人眼适应调整,适时反映人眼对辉度、亮度等的适应,其系以光适应调整(light adaptation)达成;解构该待测面板图像以产生不同尺度的影像,其系以金字塔解构(Pyramid Decomposition)达成;算出该待测面板图像之各种尺度影像的对比値;修正该待测面板图像之对比敏感度,系依照每个人对不同环境、空间下有不同的对比敏感度修正该对比値;修正该待测面板图像之倾斜效应;修正对该待测面板图像中央及图像周围敏感度的不同;以及修正针对图像解析度、显示频率之差异。18.如申请专利范围第13项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该辨识流程可导入一观点条件(Viewing Condition),与一模型调校步骤。19.如申请专利范围第13项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中该平均値系以一Minkowskipooling平均値方法产生。20.如申请专利范围第13项所述之利用视觉模型检测平面显示器之方法,其中由该检测图中可得知人眼感受到该平面显示器中瑕疵差异最大的区域。21.一种利用视觉模型检测平面显示器之装置,包括有:一差异辨识产生系统;一取像系统,系耦接该差异辨识产生系统,用以撷取一待测显示器之待测面板图像传送至该差异辨识产生系统;一背景模拟系统,系耦接该差异辨识产生系统,产生一参考图像;一视觉模型系统,系导入一视觉模型至该差异辨识产生系统;以及一检测资讯产生系统,系耦接于该差异辨识产生系统,以产生检测参考资讯。22.如申请专利范围第21项所述之利用视觉模型检测平面显示器之装置,其中藉由该检测资讯产生系统产生一检测图。23.如申请专利范围第21项所述之利用视觉模型检测平面显示器之装置,其中藉由该检测资讯产生系统产生一检测値。24.如申请专利范围第21项所述之利用视觉模型检测平面显示器之装置,其中该取像系统为一电荷耦合元件(CCD)或金氧互补半导体(CMOS)等之感光元件。25.如申请专利范围第21项所述之利用视觉模型检测平面显示器之装置,其中该检测资讯产生系统耦接一输出系统,可由一显示器或一图表方式实施。26.如申请专利范围第21项所述之利用视觉模型检测平面显示器之装置,其中该差异辨识产生系统系以一硬体或软体实现。27.如申请专利范围第21项所述之利用视觉模型检测平面显示器之装置,其中该差异辨识产生系统更耦接一观点条件(Viewing Condition),使产生出来的检测结果适当反映不同测试环境。28.如申请专利范围第21项所述之利用视觉模型检测平面显示器之装置,其中该差异辨识产生系统更耦接一模型调校(Model Calibration)。图式简单说明:第一A图与第一B图系为习用技术MURA侦测方法中MURA之类别示意图;第二图系为习用技术MURA的侦测方法流程图;第三图所示为本发明利用视觉模型检测平面显示器之装置示意图;第四图所示为本发明各部系统连接示意图;第五图系为本发明利用视觉模型检测平面显示器之方法步骤流程;第六图系为本发明调整撷取图像步骤流程;第七图系为本发明前置处理步骤流程;第八图系为本发明估计图像资讯步骤流程。 |
