动态调整记忆体晶片操作的方法与量测其ONO层厚度的装置METHOD OF DYNAMICALLY ADJUSTING OPERATION OF A MEMORY CHIP AND APPARATUS OF MEASURING THICKNESS OF AN ONO LAYER OF THE MEMORY CHIP

摘要

一种动态调整记忆体晶片操作的方法，是先提供一记忆体晶片，其中记忆体晶片包括一ONO层。然后，量测记忆体晶片的ONO层之厚度，再依据ONO层之厚度，调整记忆体晶片的读取电压。由于动态调整记忆体晶片操作，故可获得较可靠的产品操作以及较为充裕的大量生产空间。