一种雷射二极体之电性参数及其光形、发散角测试方法

摘要

本发明系提供一种雷射二极体之电性参数及其光形、发散角测试方法，系指一种可提升双波长雷射二极体其电性参数及其光形、发散角之特性响应测试效率，其包含：(一)雷射二极体之电性参数测试，其系对一第一受测元件(如：波长a雷射二极体)输入一测试讯号，进行第一阶段脉冲量测时，系于该第一受测元件距下一阶段脉冲量测间，再其对一第二受测元件(如：波长b雷射二极体)输入另一测试讯号，进行该第二受测元件之第一阶段脉冲量测，俾使透过间歇交替量测之方式，进可有效缩减总整体特性响应量测所需时间；(二)雷射二极体之光形、发散角测试，其系可于旋转量测杆上搭配应用一组或一组以上之光二极体进行量测，俾使应用一组光二极体量测下，将一驱动电流以交替方式分别输入给予第一受测元件(如：波长a雷射二极体)与第二受测元件(如：波长b雷射二极体)，使其该旋转量测杆于扫描量测过程中，可区别记录第一、二受测元件其交替发出之光形发散角响应值，进达有效缩减总整体量测所需时间。