发明名称 半导体结构和形成该半导体结构的方法
摘要 公开了一种具有形成FET沟道的纳米线的垂直FET结构。在导电的硅化物层之上形成纳米线。纳米线通过围绕的栅极而被栅极化。顶部和底部绝缘体插塞用作栅极间隔物并减小栅极-源极和栅极-漏极电容。
申请公布号 CN1870294A 申请公布日期 2006.11.29
申请号 CN200610085035.5 申请日期 2006.05.22
申请人 国际商业机器公司 发明人 盖伊·M.·科恩;保罗·M.·所罗门
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 张浩
主权项 1.一种半导体结构,包括:位于半导体衬底的一部分上或之内的硅化物接触层;位于所述硅化物接触层上的多个纳米线;围绕所述多个纳米线的栅极电介质;位于所述栅极电介质上的栅极导体;和位于所述纳米线的每个端部的源极和漏极。
地址 美国纽约