发明名称 |
双栅高压P型金属氧化物半导体晶体管 |
摘要 |
双栅高压P型金属氧化物半导体管至少有1个器件单元,单元含N型衬底,衬底上有P型重掺杂埋层,埋层之上设P型外延层,外延层上设深P型漏连接层,漏连接层上方设P型源,P型外延层表面的非有元器件区上设场氧,外延层表面的有源器件区内设N阱,N阱内设P型源区,P型源区以外的有源器件区上方有多晶硅栅且在多晶硅栅与P型源区以外的有源器件区域之间设栅氧,场氧、多晶硅栅上方及多晶硅栅下方以外的有源器件区域上设氧化层,P型漏、源区上设铝引线,P型源区由P型源和N阱接触层组成,N阱接触层在P型源之间,P型外延层的有源器件区内且位于P型源区和N阱的侧旁有孔,孔内设纵向多晶硅栅,在纵向多晶硅栅与孔之间设纵向栅氧。 |
申请公布号 |
CN1287467C |
申请公布日期 |
2006.11.29 |
申请号 |
CN03158282.6 |
申请日期 |
2003.09.22 |
申请人 |
东南大学 |
发明人 |
孙伟锋;陆生礼;刘昊;时龙兴 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01);H01L21/336(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01) |
代理机构 |
南京经纬专利商标代理有限公司 |
代理人 |
王之梓 |
主权项 |
1.一种属于高压器件的双栅高压P型金属氧化物半导体晶体管,至少包括1个器件单元,该器件单元包括:N型衬底(1),在N型衬底(1)上有P型重掺杂埋层(2),在P型重掺杂埋层之上设有P型外延层(3),P型外延层(3)上设有深P型漏区连接层(4),在深P型漏区连接层(4)上方设有P型漏区(5),在P型外延层(3)表面的非有元器件区域上设有场氧化层(6),在P型外延层(3)表面的有源器件区域内设有N阱(7),在N阱(7)内设有P型源区,在P型源区以外的有源器件区域上方设有多晶硅栅(8)且在多晶硅栅(8)与上述P型源区以外的有源器件区域之间设有栅氧化层(9),在场氧化层(6)上方、多晶硅栅(8)上方及多晶硅栅(8)下方以外的其他有源器件区域(I)上设有氧化层(10),在P型漏区(5)、P型源区上分别设有铝引线(11和12),其特征在于P型源区由P型源(13和14)和N阱接触层(15)组成,N阱接触层(15)设在P型源(13和14)之间,在P型外延层(3)的有源器件区域内且位于P型源区和N阱(7)的侧旁设有孔(16),在孔(16)内设有纵向多晶硅栅(17),在纵向多晶硅栅(17)与孔(16)的内壁及孔底之间设有纵向栅氧化层(18)。 |
地址 |
210096江苏省南京市四牌楼2号 |