用以检测光学元件品质的检测方法及装置

摘要

本发明关于一种用以检测光学元件品质的检测方法及装置，该方法包含下列步骤：利用一光源产生装置以提供一点状光源；输出该点状光源，并使其穿经由一握持装置所握持的光学镜头组，以于一光学影像处理装置处形成一第一光学影像；于该第一光学影像中具有一阴影区块时，调整该光学镜头组的位置状态，以使该点状光源于穿经遂行调整动作的该光学镜头组后，而于该光学影像处理装置处形成一第二光学影像；以及比较该第一与第二光学影像，以判断该阴影区块是否因应该光学镜头组的调整动作而同步移动，决定该光学元件的品质。

主权项

1、一种用以检测光学元件品质的检测方法，其中包含下列步骤：提供一点状光源；输出该点状光源，并使其穿经一光学元件，以于一光学影像处理装置处形成一第一光学影像；于该第一光学影像中具有一阴影区块时，调整该光学元件的位置状态，以使该点状光源于穿经遂行调整动作的该光学元件后，而于该光学影像处理装置处形成一第二光学影像；以及比较该第一与第二光学影像，以判断该阴影区块是否因应该光学元件的调整动作而同步移动，决定该光学元件的品质。