| 发明名称 | 处理缺陷区的方法 | ||
| 摘要 | 一种处理记录介质中缺陷区的方法。记录介质存储表示紧跟在缺陷区后进行链接的信息，该信息将发生在一般递增记录模式中的链接类型和发生在缺陷区后的链接类型区别开。在用户数据记录前或用户数据正在记录时检测缺陷区并登记在预定区中。链接不仅应用到递增记录模式或有限重写记录模式，还应用到紧跟在缺陷区后的区域，提高了用户数据的可靠性。 | ||
| 申请公布号 | CN1286108C | 申请公布日期 | 2006.11.22 |
| 申请号 | CN02140730.4 | 申请日期 | 2000.04.28 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 李坰根;高祯完;金荣润;朴仁植;金伦基 |
| 分类号 | G11B20/12(2006.01);G11B7/00(2006.01) | 主分类号 | G11B20/12(2006.01) |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人 | 韩明星 |
| 主权项 | 1.一种用于处理具有连续基本记录单元的记录介质中缺陷区的记录方法，包括步骤：(a)向紧跟在确认期间检测到的一个缺陷区之后分配预定数目的纠错码块；以及(b)在记录管理区中登记缺陷区列表和关于紧跟在缺陷区之后分配的预定数目的纠错码块的信息。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||