光存储特性静态测试系统

摘要

一种光存储特性静态测试系统，包括测试和监视观察两大部分，其特征在于：该系统采用三维可编程纳米平台控制系统中的物镜进行三维移动，实现读写光点的逼近和扫描，扩大了可测样品的范围，实现了测量自动化。在信息写入和读出过程中，光点和样品可以存在慢速相对运动，从而该系统还可以进行光存储特性的准动态测试。照明光由光纤导入监视观察系统，光纤的传光效率高、柔韧性好、长度可视具体情况加工，使监视观察系统具有很好的灵活性。

主权项

1、一种光存储特性静态测试系统，包括测试和监视观察两大部分，其特征在于：所述的测试部分：包括激光器(1)，激光器(1)发出的激光束G1 为线偏振光；在激光束G1前进方向上设有声光调制器(2)，一可编程声光调制控制器(17)与该声光调制器(2)相连；该声光调制器(2)负一级衍射激光前进方向上设有一反射镜(3)，反射镜(3)的反射光束所在的轴向定义为光轴O1O2；在该光轴O1O2上依次有激光扩束镜(4)、立方偏光棱镜(16)、四分之一波片(6)和光谱分光镜(10)，该立方偏光棱镜(16)的光束入射面与光轴O1O2垂直，该立方偏光棱镜(16)的内部偏振分光膜与光轴O1O2成45°，它对S光透射，对P光反射；该四分之一波片(6)与光轴O1O2垂直，并且它的快轴方向与激光器(1)输出的线偏振光的偏振方向成45°；该光谱分光镜(10)的分光面与光轴O1O2成45°，沿光轴O1O2传输的光束经光谱分光镜(10)反射所成的光束所在的轴向定义为光轴O3O4，置于该光谱分光镜(10)反射光束前进方向的光轴O3O4上依次为高数值孔径物镜(8)和样品(7)，该高数值孔径物镜(8)位于三维可编程纳米平台(9)上且该高数值孔径物镜8的对称轴与光轴O3O4相重合，样品(7)的记录层位于高数值孔径物镜(8)的焦平面；样品(7)的反射激光束经过高数值孔径物镜(8)、光谱分光镜(10)、四分之一波片(6)和立方偏光棱镜(16)形成探测光束G2，在该探测光束G2的前进方向上有光电探测器(5)；所述的监视观察部分：包括光源(14)、光纤(13)、透镜组(12)、分光镜(11)和图像观察器(15)；该透镜组(12)的对称轴与光轴O3O4 重合，光源(14)和透镜组(12)之间由光纤(13)相连接，置于透镜组(12)光出射一侧的分光镜(11)的分光面与光轴O3O4成45°，样品(7)反射的照明光经该光谱分光镜(10)透射和分光镜(11)分光面反射，形成光束G3；图像观察器(15)置于光束G3前进方向上。