改进的掀盖式记忆卡连接器结构

摘要

本实用新型公开了一种改进的掀盖式记忆卡连接器结构，其包括一基座及一扣盖；该基座上部设有一记忆卡容置槽，于容置槽面突设有数导接端子，并于基座两外侧分别设有一接地片，各接地片上端设有一导接部；该扣盖是枢设于基座上呈可翻掀及前、后移位状态的金属盖，于扣盖二侧分别设有一接触弹片；由此当扣盖下压记忆卡扣合在基座上时，可透过二接触弹片分别与接地片的导接部接触，并透过其中一导接端子与记忆卡接通，借此三点导通状态，达成侦测记忆卡是否到位及是否确实插接的检测功能。

主权项

1、一种改进的掀盖式记忆卡连接器结构，其特征是，包括：一基座，于座体上凹设有一记忆卡容置槽，所述容置槽二侧形成有高突的侧壁，于该容置槽底面植设有多个可与记忆卡电性连接的导接端子，于基座二侧壁的前后位置分别设有一供植设一接地片的垂直的插槽，该接地片于底端形成有一水平状焊接部，于上端形成有一水平状的导接部，所述导接部位于两外侧壁上方，并于基座二侧壁外面的后段设有一提供一扣盖组装的条状枢接槽；所述扣盖，是金属片体，于二侧分别形成有一侧挡片，并于二侧对应上述接地片处分别设有一接触弹片，所述接触弹片往内斜伸并与该接地片上端的导接部接触形成电性连接，另于扣盖的二侧挡片一端的内侧设有突柱，所述突柱嵌入基座的枢接槽中，所述扣盖形成可翻掀及前后移位状态；所述扣盖下压记忆卡扣合在基座上，上述二接触弹片分别与二接地片的导接部接触，且其中一导接端子与记忆卡接通，构成三点导通状态。