发明名称 多阈值MIS集成电路器件及其电路设计方法
摘要 在芯片50A中,被布置的宏电路单元20A不包括虚拟电源线和高阈值电压的泄漏电流抑制MOS晶体管和高阈值电压的泄漏电流抑制MOS晶体管单元51。晶体管单元51具有一条与该单元的纵方向重合的门线51G,它沿着宏电路单元20A的矩形单元框架的一侧布置,及具有一个连至用于外部连接的VDD焊盘60和61的漏区域51D,一条连至I/O单元73的门线51G以及一个连至宏电路单元20A的VDD端点的源区域51S。此VDD端点用作一条虚拟电源线V_VDD的一个端点。
申请公布号 CN1286183C 申请公布日期 2006.11.22
申请号 CN02151422.4 申请日期 2002.11.19
申请人 富士通株式会社 发明人 宫城觉
分类号 H01L27/118(2006.01) 主分类号 H01L27/118(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 李强
主权项 1.一种多阈值MIS集成电路器件,包括:第一宏电路(20A),包括第一内部电路(31A,32A)和连至第一内部电路的第一虚拟电源线(V_VDD),该第一内部电路包括具有第一阈值电压的一个MIS晶体管;及第一泄漏电流抑制MIS晶体管单元(51),具有连至第一电源控制线(85A2,85B2,85B1)的第一门线(51G),具有与第一门线重合的纵方向,沿着第一宏电路的宏框架的一侧形成,具有与第一阈值电压不同的第二阈值电压,具有一条电流路径,该电流路径的一端和另一端分别连至第一电源线(80A)和所述第一虚拟电源线。其中所述第一宏电路和第一泄漏电流抑制MIS晶体管单元被形成于一块基片上。
地址 日本神奈川