发明名称 基于器壁侵蚀提高气动斥力和开断性能的低压灭弧系统
摘要 基于器壁侵蚀提高气动斥力和开断系统的低压灭弧系统,包括静导电回路以及与其相邻的引弧板,在静导电回路上焊接有静触头,且在引弧板的上端还设置有灭弧室,动导电杆上焊接有动触头,并绕转轴旋转,在静触头的四周及引弧板上分别设置有产气材料层。由于本发明在静触头周围及引弧板区域设置产气材料,从而提高了低压电器的气动斥力数值以及开断性能,对接触器来说,可有效地防止触头回落和熔焊。从实验结果发现,在4kA预期短路电流时,加入产气材料,气动斥力增加2.5倍。仿真分析也表明,气动斥力的存在能够使触头高速运动,提高低压电器的开断性能,并可抑制低压电器开断过程中的触头回落现象,以及相应的触头熔焊现象。
申请公布号 CN1866434A 申请公布日期 2006.11.22
申请号 CN200610042925.8 申请日期 2006.06.05
申请人 西安交通大学 发明人 李兴文;陈德桂
分类号 H01H9/30(2006.01);H01H9/34(2006.01) 主分类号 H01H9/30(2006.01)
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 代理人 张震国
主权项 1、基于器壁侵蚀提高气动斥力和开断系统的低压灭弧系统,包括静导电回路(3)以及与其相邻的引弧板(2),在静导电回路(3)上焊接有静触头(1),且在引弧板(2)的上端还设置有灭弧室(6),动导电杆(5)上焊接有动触头(4),并绕转轴(7)旋转,其特征在于:在静触头(1)的四周及引弧板(2)上分别设置有产气材料层(8)。
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