发明名称 |
共轴双探测面的激光粒度仪 |
摘要 |
一种共轴双探测面的激光粒度仪。解决现有激光粒度仪,尤其是干法测量的激光粒度仪动态范围较小、不能满足宽分布粒径测量需要、调整也比较繁琐的问题。本发明包括激光发射器和接收器,接收器包括与激光发射器光束同轴依次设置的第一透镜、位于第一透镜焦平面上的第一多元光电探测器、第二透镜、位于第一与第二透镜组合焦平面上的第二多元光电探测器。该激光粒度仪一次就能完成总量程范围内的粒度测量,扩大了动态范围,尤其适用工作距离比较大的颗粒度测量。多元光电探测器整体制作,光电特性一致性好,对于信号采集有利,也容易获得无探测盲区的信号;测量时器件间的相对位置保持不变,简化了仪器调整和测量操作,可提高自动化测量水平。 |
申请公布号 |
CN1865918A |
申请公布日期 |
2006.11.22 |
申请号 |
CN200610013967.9 |
申请日期 |
2006.05.31 |
申请人 |
天津大学 |
发明人 |
葛宝臻;魏永杰;魏耀林 |
分类号 |
G01N15/02(2006.01);G01N21/45(2006.01) |
主分类号 |
G01N15/02(2006.01) |
代理机构 |
天津佳盟知识产权代理有限公司 |
代理人 |
侯力 |
主权项 |
1、一种共轴双探测面的激光粒度仪,包括激光发射器和接收器,其特征是接收器包括与激光发射器光束同轴依次设置的第一透镜、位于第一透镜的焦平面(P1)上的第一多元光电探测器、第二透镜、位于第一与第二透镜的组合焦平面(P2)上的第二多元光电探测器。 |
地址 |
300072天津市南开区卫津路92号精仪学院 |