发明名称 共轴双探测面的激光粒度仪
摘要 一种共轴双探测面的激光粒度仪。解决现有激光粒度仪,尤其是干法测量的激光粒度仪动态范围较小、不能满足宽分布粒径测量需要、调整也比较繁琐的问题。本发明包括激光发射器和接收器,接收器包括与激光发射器光束同轴依次设置的第一透镜、位于第一透镜焦平面上的第一多元光电探测器、第二透镜、位于第一与第二透镜组合焦平面上的第二多元光电探测器。该激光粒度仪一次就能完成总量程范围内的粒度测量,扩大了动态范围,尤其适用工作距离比较大的颗粒度测量。多元光电探测器整体制作,光电特性一致性好,对于信号采集有利,也容易获得无探测盲区的信号;测量时器件间的相对位置保持不变,简化了仪器调整和测量操作,可提高自动化测量水平。
申请公布号 CN1865918A 申请公布日期 2006.11.22
申请号 CN200610013967.9 申请日期 2006.05.31
申请人 天津大学 发明人 葛宝臻;魏永杰;魏耀林
分类号 G01N15/02(2006.01);G01N21/45(2006.01) 主分类号 G01N15/02(2006.01)
代理机构 天津佳盟知识产权代理有限公司 代理人 侯力
主权项 1、一种共轴双探测面的激光粒度仪,包括激光发射器和接收器,其特征是接收器包括与激光发射器光束同轴依次设置的第一透镜、位于第一透镜的焦平面(P1)上的第一多元光电探测器、第二透镜、位于第一与第二透镜的组合焦平面(P2)上的第二多元光电探测器。
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