发明名称 一种滚转角测量方法与装置
摘要 本发明公开了一种滚转角测量方法与装置,属于光电检测技术领域。本发明利用半导体激光经过单模光纤(2)准直,准直透镜(3)扩束,再经过偏振片(4)后,在光轴上依次放置一个四分之一波片(7)及反射镜(8)。通过反射镜使光线两次透过四分之一波片,再经过一个渥拉斯顿棱镜(5)透射到多象限探测器(6)上产生电压差值,通过检测该差值得到滚转角的值。与现有技术相比,测量灵敏度得到提高,光路结构简单,使移动部分不带电缆,方便现场测量,在保证测量精度的前提下,有效降低了成本。
申请公布号 CN1285883C 申请公布日期 2006.11.22
申请号 CN200510011877.1 申请日期 2005.06.07
申请人 北京交通大学 发明人 匡萃方;冯其波;张斌;陈士谦
分类号 G01B11/26(2006.01);G01D5/26(2006.01) 主分类号 G01B11/26(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种滚转角测量方法,包括以下步骤:1)由半导体激光器(1)发出的激光经过单模光纤(2)准直,准直透镜(3)扩束,再经过偏振片(4)变成线偏振光;2)该线偏振光透过四分之一波片(7),其中四分之一波片的快轴与激光的偏振方向成-π/4角度;3)经过反射镜(8)使光线逆向返回,再次透过四分之一波片(7);4)该光线经过渥拉斯顿棱镜(5)分束成两束光,其中渥拉斯顿棱镜光轴与偏振激光成π/4角度;5)用一个探测器(6)探测两分束光,光强转化为电信号,该电信号经过信号处理电路(9)放大运算后送入计算机(10),其输出电压的正负反映滚转角方向,电压绝对值大小反映滚转角的值。
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