发明名称 |
一种滚转角测量方法与装置 |
摘要 |
本发明公开了一种滚转角测量方法与装置,属于光电检测技术领域。本发明利用半导体激光经过单模光纤(2)准直,准直透镜(3)扩束,再经过偏振片(4)后,在光轴上依次放置一个四分之一波片(7)及反射镜(8)。通过反射镜使光线两次透过四分之一波片,再经过一个渥拉斯顿棱镜(5)透射到多象限探测器(6)上产生电压差值,通过检测该差值得到滚转角的值。与现有技术相比,测量灵敏度得到提高,光路结构简单,使移动部分不带电缆,方便现场测量,在保证测量精度的前提下,有效降低了成本。 |
申请公布号 |
CN1285883C |
申请公布日期 |
2006.11.22 |
申请号 |
CN200510011877.1 |
申请日期 |
2005.06.07 |
申请人 |
北京交通大学 |
发明人 |
匡萃方;冯其波;张斌;陈士谦 |
分类号 |
G01B11/26(2006.01);G01D5/26(2006.01) |
主分类号 |
G01B11/26(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种滚转角测量方法,包括以下步骤:1)由半导体激光器(1)发出的激光经过单模光纤(2)准直,准直透镜(3)扩束,再经过偏振片(4)变成线偏振光;2)该线偏振光透过四分之一波片(7),其中四分之一波片的快轴与激光的偏振方向成-π/4角度;3)经过反射镜(8)使光线逆向返回,再次透过四分之一波片(7);4)该光线经过渥拉斯顿棱镜(5)分束成两束光,其中渥拉斯顿棱镜光轴与偏振激光成π/4角度;5)用一个探测器(6)探测两分束光,光强转化为电信号,该电信号经过信号处理电路(9)放大运算后送入计算机(10),其输出电压的正负反映滚转角方向,电压绝对值大小反映滚转角的值。 |
地址 |
100044北京市海淀区西直门外上园村3号 |