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发明名称
测试凸块或凸块下金属层接合之方法
摘要
本发明系关于一种测试凸块或凸块下金属层之接合之方法,其系利用一胶带贴合至所欲测试之载体上之凸块后,撕开该胶带以形成一断裂处,观察该断裂处可得知该凸块或该凸块下金属层之接合,藉此,一次可以测试复数个凸块,且步骤简单,测试时间短。
申请公布号
TW200639916
申请公布日期
2006.11.16
申请号
TW094115444
申请日期
2005.05.12
申请人
日月光半导体制造股份有限公司
发明人
陈昭雄
分类号
H01L21/02(2006.01)
主分类号
H01L21/02(2006.01)
代理机构
代理人
陈长文
主权项
地址
高雄市楠梓加工区经三路26号
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