发明名称 测试凸块或凸块下金属层接合之方法
摘要 本发明系关于一种测试凸块或凸块下金属层之接合之方法,其系利用一胶带贴合至所欲测试之载体上之凸块后,撕开该胶带以形成一断裂处,观察该断裂处可得知该凸块或该凸块下金属层之接合,藉此,一次可以测试复数个凸块,且步骤简单,测试时间短。
申请公布号 TW200639916 申请公布日期 2006.11.16
申请号 TW094115444 申请日期 2005.05.12
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 陈昭雄
分类号 H01L21/02(2006.01) 主分类号 H01L21/02(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 高雄市楠梓加工区经三路26号