发明名称 功率接面场效电晶体结构及其制法
摘要 本案系为一种功率接面场效电晶体结构及其制法,其制法包含步骤:(a)提供基板,其具有磊晶层;(b)形成氧化层于磊晶层上;(c)进行第一次光罩微影蚀刻,以形成闸极汇流排及保护环开口;(d)植入第一掺杂物,以形成闸极汇流排井区及保护环区;(e)进行第二次光罩微影蚀刻,以形成双闸极开口;(f)植入一第二掺杂物,以于磊晶层上形成至少一双闸极及一闸极汇流排;(g)形成介电质层于氧化层上;(h)进行第三次光罩微影蚀刻,以形成源极层开口;(i)植入一第三掺杂物,以于双闸极上形成源极层;(j)进行第四次光罩微影蚀刻,以形成闸极汇流排金属接面开口;以及(k)沈积金属层,并进行第五次光罩微影蚀刻,以形成闸极汇流排金属层及源极金属层,分别连接闸极汇流排及源极层。
申请公布号 TW200639917 申请公布日期 2006.11.16
申请号 TW094115660 申请日期 2005.05.13
申请人 达晶半导体股份有限公司 发明人 曾军;孙伯益
分类号 H01L21/02(2006.01) 主分类号 H01L21/02(2006.01)
代理机构 代理人 王丽茹;曾国轩
主权项
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