发明名称 | 功率接面场效电晶体结构及其制法 | ||
摘要 | 本案系为一种功率接面场效电晶体结构及其制法,其制法包含步骤:(a)提供基板,其具有磊晶层;(b)形成氧化层于磊晶层上;(c)进行第一次光罩微影蚀刻,以形成闸极汇流排及保护环开口;(d)植入第一掺杂物,以形成闸极汇流排井区及保护环区;(e)进行第二次光罩微影蚀刻,以形成双闸极开口;(f)植入一第二掺杂物,以于磊晶层上形成至少一双闸极及一闸极汇流排;(g)形成介电质层于氧化层上;(h)进行第三次光罩微影蚀刻,以形成源极层开口;(i)植入一第三掺杂物,以于双闸极上形成源极层;(j)进行第四次光罩微影蚀刻,以形成闸极汇流排金属接面开口;以及(k)沈积金属层,并进行第五次光罩微影蚀刻,以形成闸极汇流排金属层及源极金属层,分别连接闸极汇流排及源极层。 | ||
申请公布号 | TW200639917 | 申请公布日期 | 2006.11.16 |
申请号 | TW094115660 | 申请日期 | 2005.05.13 |
申请人 | 达晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 曾军;孙伯益 |
分类号 | H01L21/02(2006.01) | 主分类号 | H01L21/02(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 王丽茹;曾国轩 | |
主权项 | |||
地址 | 台北县中和市建一路176号14楼 |