发明名称 | 测试装置 | ||
摘要 | 一种测试装置,包括:多个测试信号供给部,将用于向作为连接目标的被测试记忆体写入测试资料之测试信号供给到被测试记忆体的终端;多个终端对应判定部,用于输出表示从作为连接目标的终端所读出的测试资料与期待值是否一致之终端单位判定结果;判定结果选择部,对从多个终端对应判定部所输出的多个终端单位判定结果,在每一被测试记忆体进行选择;记忆体对应判定部,根据判定结果选择部所得到的选择结果,判定每一被测试记忆体的写入成功与否;特定部,将与写入成功的被测试记忆体连接的测试信号供给部,及与写入失败的被测试记忆体连接的测试信号供给部进行特定;遮罩处理部,依据写入的成功与否,指示各测试信号供给部是否进行再次测试。 | ||
申请公布号 | TW200639868 | 申请公布日期 | 2006.11.16 |
申请号 | TW095116499 | 申请日期 | 2006.05.10 |
申请人 | 爱德万测试股份有限公司 | 发明人 | 秦真 HATA, MASAHIKO;佐藤新哉 |
分类号 | G11C29/10(2006.01) | 主分类号 | G11C29/10(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |