发明名称 制作铜双镶嵌结构之方法
摘要 本发明提供一种制作铜双镶嵌结构之方法。首先提供一半导体基底,其上包含有一双镶嵌孔洞设于一介电层中,且部分半导体基底系暴露于该孔洞底部,接着进行一物理气相 积制程于双镶嵌孔洞内形成一基底保护层,再进行一原子化学气相 积于基底保护层上形成一氮化钽层,作为一阻障层,最后于双镶嵌孔洞中形成一铜金属层。
申请公布号 TW200639970 申请公布日期 2006.11.16
申请号 TW094114390 申请日期 2005.05.04
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 邓宪哲;林进富;陈孟祺
分类号 H01L21/768(2006.01) 主分类号 H01L21/768(2006.01)
代理机构 代理人 许锺迪
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号