发明名称 | 制作铜双镶嵌结构之方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种制作铜双镶嵌结构之方法。首先提供一半导体基底,其上包含有一双镶嵌孔洞设于一介电层中,且部分半导体基底系暴露于该孔洞底部,接着进行一物理气相 积制程于双镶嵌孔洞内形成一基底保护层,再进行一原子化学气相 积于基底保护层上形成一氮化钽层,作为一阻障层,最后于双镶嵌孔洞中形成一铜金属层。 | ||
申请公布号 | TW200639970 | 申请公布日期 | 2006.11.16 |
申请号 | TW094114390 | 申请日期 | 2005.05.04 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 邓宪哲;林进富;陈孟祺 |
分类号 | H01L21/768(2006.01) | 主分类号 | H01L21/768(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 许锺迪 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |