发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 在一半导体基板之一第一区域及一第二区域上分别形成一矽膜;选择性地将P型杂质离子植入至该第一区域中之该矽膜中;施行一第一退火,藉以活化植入至该矽膜中之P型杂质;在该第一退火后选择性地将N型杂质离子植入至该第二区域中之该矽膜中;在将N型杂质离子植入后根据一CVD方法在该矽膜上形成一矽化物膜;施行一第二退火,藉以将包含于该矽化物膜中之气体排除,并活化该N型杂质;将一阻障金属膜及一金属膜依此顺序形成在该矽化物膜上;及将该金属膜、该阻障金属膜、该矽化物膜及该矽膜图型化,藉以在该第一区域中形成一P型多金属闸电极而在该第二区域中形成一N型多金属闸电极。
申请公布号 TW200639974 申请公布日期 2006.11.16
申请号 TW095100594 申请日期 2006.01.06
申请人 尔必达存储器股份有限公司 发明人 齐野敢太
分类号 H01L21/8238(2006.01) 主分类号 H01L21/8238(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本