发明名称 薄膜形成装置
摘要 于将基板导入处理室并进行处理时,透过2排的真空隔绝室(load–lockchamber)导入。第1排之真空隔绝室,维持大气压之状态下,取代成惰性气体环境。第2排之真空隔绝室,具有烘烤加热器。如果于内壁附着有机物之状态进行减压,则内壁之有机物会脱离并污染基板,但是,藉由在未附着有机物之第2排之真空隔绝室内进行减压,可防止有机物附着于基板。
申请公布号 TW200639928 申请公布日期 2006.11.16
申请号 TW095103697 申请日期 2006.02.03
申请人 国立大学法人 东北大学 发明人 大见忠弘;河濑和雅;寺本章伸
分类号 H01L21/205(2006.01);H01L21/00(2006.01) 主分类号 H01L21/205(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本