发明名称 |
半导体结构及制造该半导体结构的方法 |
摘要 |
本发明提供电可编程的金属电阻器及其制备方法,其中电迁移应力被用于在结构中产生提高电阻器电阻的空洞。具体地,提供包括互连结构的半导体结构,所述互连结构包括至少一个介质层,其中所述至少一个介质层包括至少两个导电区和一个上层互连区,所述互连区嵌入在所述介质层内,所述至少两个导电区通过至少两个接触而与所述上层互连区相接触,而且至少所述的互连区与所述的至少一个介质层被扩散阻挡层隔离,其中空洞至少存在于互连区中,所述空洞提高互连区的电阻。 |
申请公布号 |
CN1862802A |
申请公布日期 |
2006.11.15 |
申请号 |
CN200610059739.5 |
申请日期 |
2006.03.03 |
申请人 |
国际商业机器公司 |
发明人 |
杨智超;劳伦斯·A.·克莱温格;詹姆斯·J.·德马莱斯特;许履尘;卡尔·莱登斯 |
分类号 |
H01L23/522(2006.01);H01L21/768(2006.01) |
主分类号 |
H01L23/522(2006.01) |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
王永刚 |
主权项 |
1.一种半导体结构,包括:互连结构,该互连结构包括至少一个介质层,其中所述至少一个介质层包括嵌入其中的至少两个导电区以及上层互连区,所述至少两个导电区与所述上层互连区通过至少两个接触而接触,并且至少所述互连区通过扩散阻挡层而与所述至少一个介质层隔开,其中至少在互连区中存在着提高互连区电阻的空洞。 |
地址 |
美国纽约 |