发明名称 | 电路板检验装置 | ||
摘要 | 一种用于检测以点阵方式设置了多个待测电极的电路板的电路板检验装置。所述电路板检验装置包括一个适配器,其具有一个接线板,在其正面上根据待检验电极形成了多个连接电极,和设置在接线板的正面上的一个各向异性导电弹性片,以及设置在接线板背面上的压针结构,所述压针结构具有多个压针。所述压针被设置成使至少一个压针位于4个相邻连接电极的中心点相连接构成的矩形区域内。 | ||
申请公布号 | CN1864070A | 申请公布日期 | 2006.11.15 |
申请号 | CN200480029439.1 | 申请日期 | 2004.09.27 |
申请人 | JSR株式会社 | 发明人 | 木村浩;下田杉郎 |
分类号 | G01R31/02(2006.01) | 主分类号 | G01R31/02(2006.01) |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 李勇 |
主权项 | 1.一种用于检验具有多个点阵设置的待检验电极的电路板的电气特性的电路板检验装置,其包括:一个适配器,其具有一个接线板,在其正表面上有根据检验目标电路板的待检验电极图案形成的多个连接电极,和设置在接线板的正面上的一个各向异性导电弹性片,以及设置在适配器内接线板的背面上的压针结构,所述压针结构具有用于按压适配器的多个压针,其中压针结构的多个压针被设置成当从厚度方向上来看压针结构和适配器时,至少一个压针位于由接线板的4个相邻连接电极的中心点相连接构成的矩形区域内。 | ||
地址 | 日本东京 |