发明名称 | 制造碳化硅单晶的方法和用于制造碳化硅单晶的装置 | ||
摘要 | 一种用于制造SiC单晶的装置,包括:一Si设置部分,其中放有固态硅;一籽晶设置部分,其中放有SiC的籽晶;一合成容器,适合于容纳Si设置部分、籽晶设置部分和碳;加热构件,适合于加热Si设置部分和籽晶设置部分;和一控制部分,用于向加热构件输送一指令,以将硅加热到硅的蒸发温度或更高,和将籽晶加热到高于Si的温度;其中,由加热构件蒸发的Si适于达到籽晶设置部分;以及在所述硅设置部分内布置的所述硅的一上表面上布置有一由碳、石英或SiC制成的屏障,它上面具有通孔,允许由所述加热构件蒸发的硅从此经过。本发明还涉及制造SiC单晶的方法。 | ||
申请公布号 | CN1284887C | 申请公布日期 | 2006.11.15 |
申请号 | CN99100967.3 | 申请日期 | 1999.01.18 |
申请人 | 住友电气工业株式会社;西野茂弘 | 发明人 | 盐见弘;西野茂弘 |
分类号 | C30B29/36(2006.01) | 主分类号 | C30B29/36(2006.01) |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 陶凤波 |
主权项 | 1.一种制造SiC单晶的方法,包括:一设置步骤,将固态Si设置在一第一温度区域T1内,和将一SiC籽晶设置在一比所述第一温度区域T1高的第二温度区域T2内;一Si蒸发步骤,从所述第一温度区域T1蒸发Si;一SiC形成气体生成步骤,通过使所述蒸发的硅与碳反应生成SiC形成气体;和一单晶形成步骤,使所述SiC形成气体到达所述籽晶,以形成所述SiC单晶,其中,一由碳、石英或SiC制成的屏障布置在所述第一温度区域T1内的所述固态Si的上表面;所述屏障控制所述Si的蒸气压。 | ||
地址 | 日本大阪府 |