发明名称 ESD-Schutzstruktur mit Diodenreihenschaltung
摘要 ESD-Schutzstruktur (3) zum Schutz einer Schaltung vor elektrostatischen Entladungen mit einer zwischen zwei Versorgungspotentiale (VDD, VSS) zu schaltenden Reihenschaltung von N Dioden (4-6) mit jeweils einer Anode (8) und einer Kathode (9), wobei die Dioden (4-6) derart auf einem Halbleitersubstrat (7) angeordnet sind, dass ein räumlicher Abstand (d¶1¶) zwischen der Anode (8) einer ersten Diode (4) und der Kathode (9) einer N-ten Diode (6) der Reihenschaltung kleiner ist als ein maximaler Abstand (d¶2¶) zwischen der Anode (8) oder Kathode (9) einer ersten räumlich äußeren Diode der Reihenschaltung und der Anode (8) oder Kathode (9) einer zweiten räumlich äußeren Diode der Reihenschaltung. Dies kann z. B. dadurch erreicht werden, dass die erste (4) und die N-te Diode (6) benachbart angeordnet sind. Der im Vergleich zu einer herkömmlichen Diodenreihenschaltung verringerte Abstand (d¶1¶) zwischen der Anode (8) der ersten Diode (4) und der Kathode (9) der N-ten Diode (6) bewirkt, dass die zum Aufbau eines parasitären Entladungspfads (12) durch das Halbleitersubstrat (7) benötigte Zeit verringert und der Schutz vor kurzzeitigen Entladungen verbessert wird.
申请公布号 DE102005019305(A1) 申请公布日期 2006.11.09
申请号 DE200510019305 申请日期 2005.04.26
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 GLASER, ULRICH;STREIBL, MARTIN;ESMARK, KAI
分类号 H01L23/60;H01L27/082 主分类号 H01L23/60
代理机构 代理人
主权项
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