发明名称 Laser-Scanning-Mikroskop
摘要 Laser Scanning-Mikroskop, vorzugsweise mit linienförmiger Abtastung, wobei Beleuchtungslicht mit mindestens einem Galvanometerscanner über die Probe geführt wird, DOLLAR A wobei der Scanner eine mechanische Auslenkungsbegrenzung aufweist, wobei Mittel zur Bestimmung einer Stromerhöhung vorgesehen sind und bei Erreichen eines Schwellwertes die Betriebsspannung des Scanners ausgeschaltet wird, bis der Schwellwert unterschritten wird und vorteilhaft i eine optische und/oder akustische Anzeigeeinrichtung vorgesehen ist, die das Ein- und Ausschalten des Scanners anzeigt.
申请公布号 DE102005020541(A1) 申请公布日期 2006.11.09
申请号 DE200510020541 申请日期 2005.05.03
申请人 CARL ZEISS JENA GMBH 发明人 BLOOS, HELMUT
分类号 G02B21/00 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
主权项
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