| 发明名称 |
VERFAHREN UND KONTROLLLOGIK ZUM ANSTEUERN VON MEHREREN TAPS (TEST ACCESS PORTS) ÜBER EINEN EINZIGEN TAP |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE60306164(T2) |
申请公布日期 |
2006.11.09 |
| 申请号 |
DE20036006164T |
申请日期 |
2003.05.09 |
| 申请人 |
FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. |
发明人 |
MOYER, C.;BRUCE, WILLIAM |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G01R31/3187;G06F7/00;G06F11/267 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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