发明名称 | 温度控制装置 | ||
摘要 | 一种温度控制装置,具备插座支架(16h),装配在测试器头(14)上,保持载置IC芯片(11)的插座(12);插座盖(25),具有开口部(25A),当测试时,使按压该IC芯片(11)]用的信息处理器之推杆(26)的顶端通过,在利用所述推杆(26)将IC芯片(11)按压在插座(12)中的状态下,在所述IC芯片(11)的周围形成密闭的空间(27);和气体提供部件(19、20、24),从外部向所述空间(27)内送入规定温度的气体。 | ||
申请公布号 | CN1858607A | 申请公布日期 | 2006.11.08 |
申请号 | CN200610078817.6 | 申请日期 | 2006.05.08 |
申请人 | 雷特控制株式会社 | 发明人 | 林伸太郎;浦川修;小泉光雄 |
分类号 | G01R31/00(2006.01) | 主分类号 | G01R31/00(2006.01) |
代理机构 | 北京北翔知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈霁;杨勇 |
主权项 | 1.一种温度控制装置,其特征在于:具备插座支架,装配在测试器头上,保持载置测试对象的IC芯片之插座;插座盖,具有开口部,当测试所述IC芯片时,使按压该IC芯片用的信息处理器之推杆顶端通过,在利用所述推杆将IC芯片按压在插座中的状态下,在所述IC芯片的周围形成密闭的空间;和气体提供部件,从外部向所述空间内送入规定温度的气体。 | ||
地址 | 日本横滨 |