发明名称 |
薄膜型共态扼流圈及其制造方法 |
摘要 |
一种薄膜型共态扼流圈,包括:具有一磁基板的叠层结构;在厚度方向上层叠在所述磁基板上的电绝缘层和导线层;其中所述导线层形成至少两个线圈导线;至少两个所述导线层设置为螺旋导线图形;并且所述螺旋导线图形满足公式:5μm≤W1≤36μm;其中W1代表每一所述螺旋导线图形的导线宽度。 |
申请公布号 |
CN1858864A |
申请公布日期 |
2006.11.08 |
申请号 |
CN200610074684.5 |
申请日期 |
2004.02.26 |
申请人 |
TDK株式会社 |
发明人 |
伊藤知一;工藤孝洁;大友诚 |
分类号 |
H01F17/00(2006.01);H01F41/00(2006.01) |
主分类号 |
H01F17/00(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
廖凌玲 |
主权项 |
1.一种薄膜型共态扼流圈,包括:具有一磁基板的叠层结构;在厚度方向上层叠在所述磁基板上的电绝缘层和导线层;其中,所述导线层形成至少两个线圈导线;至少两个所述导线层设置为螺旋导线图形;并且所述螺旋导线图形满足公式:5μm≤W1≤36μm其中W1代表每一所述螺旋导线图形的导线宽度。 |
地址 |
日本东京 |