发明名称 薄膜型共态扼流圈及其制造方法
摘要 一种薄膜型共态扼流圈,包括:具有一磁基板的叠层结构;在厚度方向上层叠在所述磁基板上的电绝缘层和导线层;其中所述导线层形成至少两个线圈导线;至少两个所述导线层设置为螺旋导线图形;并且所述螺旋导线图形满足公式:5μm≤W1≤36μm;其中W1代表每一所述螺旋导线图形的导线宽度。
申请公布号 CN1858864A 申请公布日期 2006.11.08
申请号 CN200610074684.5 申请日期 2004.02.26
申请人 TDK株式会社 发明人 伊藤知一;工藤孝洁;大友诚
分类号 H01F17/00(2006.01);H01F41/00(2006.01) 主分类号 H01F17/00(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 廖凌玲
主权项 1.一种薄膜型共态扼流圈,包括:具有一磁基板的叠层结构;在厚度方向上层叠在所述磁基板上的电绝缘层和导线层;其中,所述导线层形成至少两个线圈导线;至少两个所述导线层设置为螺旋导线图形;并且所述螺旋导线图形满足公式:5μm≤W1≤36μm其中W1代表每一所述螺旋导线图形的导线宽度。
地址 日本东京