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发明名称 CDMA INTEGRATED CIRCUIT DEMODULATOR WITH BUILD-IN TEST PATTERN GENERATION
摘要
申请公布号 EP1718982(A1) 申请公布日期 2006.11.08
申请号 EP20040815324 申请日期 2004.12.21
申请人 QUALCOMM, INCORPORATED 发明人 LI, TAO
分类号 G01R31/319;G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/3187;H04B1/707;H04B17/00 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
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