发明名称 Methods of inspecting a lithography template
摘要 A method for forming imprint lithography templates is described herein. The method includes forming a masking layer and a conductive layer on a substrate surface. The use of a conductive layer allows patterning of the masking layer using electron beam pattern generators. The substrate is etched using the patterned masking layer to produce a template.
申请公布号 US7132225(B2) 申请公布日期 2006.11.07
申请号 US20020293919 申请日期 2002.11.13
申请人 MOLECULAR IMPRINTS, INC. 发明人 VOISIN RONALD D.
分类号 H01L21/00;G03F1/00;G03F7/00;G03F7/09 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人
主权项
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