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经营范围
发明名称
ON-CHIP SELF TEST CIRCUIT AND SELF TEST METHOD OF SIGNAL DISTORTION
摘要
申请公布号
KR100641706(B1)
申请公布日期
2006.11.03
申请号
KR20040088841
申请日期
2004.11.03
申请人
发明人
分类号
G11C29/00
主分类号
G11C29/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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