Projektor für eine Anordnung zum dreidimensionalen optischen Vermessen von Objekten

摘要

Ein Projektor für eine Anordnung zum dreidimensionalen optischen Vermessen von Objekten (6) mit einem topometrischen Messverfahren, bei dem Bilder von auf ein Objekt (6) projizierten Projektionsmustern (2) aufgenommen und ausgewertet werden, wobei der Projektor eine Beleuchtungseinheit (4) und einen mit Projektionsmustern (2) versehenen Träger (1) zur Projektion der Lichtstrukturen hat. Die Aufgabe wird dadurch gelöst, dass auf dem Träger (1) Projektionsmuster (2) in Form sich wiederholender geometrischer Einzelstrukturen angeordnet sind und der Träger (1) mit den Projektionsmustern (2) derart beweglich angeordnet ist, dass während der Bewegung und Beleuchtung ausgewählte Bereich des Projektionsmusters (2) in den Strahlengang (7) zwischen Beleuchtungseinheit (4) und Objekt (6) verschoben werden und auf dem Objekt (6) durch die Bewegungsunschärfe ein streifenförmiges Muster ausgebildet wird.