发明名称 半导体感测晶片之封装结构及其封装方法
摘要 一种半导体感测晶片之封装结构包含一基板、一框体及一感测晶片。框体设置于基板上,并具有一第一阶梯部分及一第二阶梯部分,第二阶梯部分定义出一开窗,第二阶梯部分高于第一阶梯部分而形成一段差。感测晶片具有一感测面来感测一待测物体。感测晶片设置于基板上并电连接至基板。感测晶片容置于开窗中,且感测面实质上与第二阶梯部分齐平。在手指滑过感测晶片时,藉由段差之设计可以刮除手指上的残污以减少其残留于感测区域,来保持感测晶片之洁净。
申请公布号 TW200638494 申请公布日期 2006.11.01
申请号 TW094113805 申请日期 2005.04.29
申请人 祥群科技股份有限公司 发明人 周正三;范成至
分类号 H01L21/56(2006.01) 主分类号 H01L21/56(2006.01)
代理机构 代理人 叶信金
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路1号4楼