发明名称 | 金属矽化物的制程方法 | ||
摘要 | 一种金属矽化物制程方法,此方法系针对金属矽化物制程中,于沈积耐热金属层且进行第一次回火和清除未反应金属层之后,进行物种植入制程,将物种植入金属矽化物中,以破坏金属矽化物中的晶格结构,避免在第二次回火时,金属矽化物因为温度较高而造成尖峰(spiking)与侧向扩散,而产生界面漏电流(junctionleakage)的问题。 | ||
申请公布号 | TW200638483 | 申请公布日期 | 2006.11.01 |
申请号 | TW094113066 | 申请日期 | 2005.04.25 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 谢朝景;江怡颖;黄建中;曹博昭;徐新惠;林建廷;戎乐天 |
分类号 | H01L21/3205(2006.01) | 主分类号 | H01L21/3205(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |