| 主权项 |
1.一种射频标签测试器,应用于至少一个待测射频标签之测试过程中,该射频标签测试器包含:一测试电波信号产生器,其系产生一测试电波信号一中空导管,该测试电波信号系由一第一端送入该中空导管;一槽孔,设置于该中空导管之壁上,其系供该待测射频标签通过而由外侧置入该中空导管中,而经过该待测射频标签作用后之该测试电波信号由该中空导管之一第二端送出;一侦测器,用以侦测该中空导管之第二端送出之经过该待测射频标签作用后之该测试电波信号;以及一信号处理器,信号连接于该测试电波信号产生器与该侦测器之间,其系根据该测试电波信号与经过该待测射频标签作用后之该测试电波信号之差异,进而运算出该待测射频标签的一射频电气特性。2.如申请专利范围第1项所述之射频标签测试器,其中更包含:一第一同轴导管,连接于该测试电波信号产生器与该中空导管之间,用以将该测试电波信号导入该中空导管中;以及一第二同轴导管,连接于该中空导管与该侦测器之间,用以将经过该待测射频标签作用后之该测试电波信号导入该侦测器中。3.如申请专利范围第2项所述之射频标签测试器,其中该第一同轴导管包含:一第一实心内导管,其第一端电连接于该测试电波信号产生器,第二端延伸至该中空导管中,该第一端之直径小于该第二端之直径;一第一中空外导管,其第一端套合于该第一实心内导管之第一端,其第二端接合于该中空导管,该第一端之直径小于该第二端之直径;以及一第一介电环,套接于该第一实心内导管与该第一中空外导管之间。4.如申请专利范围第2项所述之射频标签测试器,其中该第二同轴导管包含:一第二实心内导管,其第一端电连接于该测试电波信号产生器,第二端延伸至该中空导管中,该第一端之直径小于该第二端之直径;一第二中空外导管,其第一端套合于该第二实心内导管之第一端,其第二端接合于该中空导管,该第一端之直径小于该第二端之直径;以及一第二介电环,套接于该第二实心内导管与该第二中空外导管之间。5.如申请专利范围第1项所述之射频标签测试器,其中该测试电波信号产生器系可为一扫频信号源。6.如申请专利范围第1项所述之射频标签测试器,其中该侦测器系可为一检波器。7.如申请专利范围第1项所述之射频标签测试器,其中该信号处理器系可为一示波器(还是有其它更适切的描述)。8.如申请专利范围第1项所述之射频标签测试器,其中该中空导管为一圆柱形中空导管。图式简单说明:第一图,其系无线电辨识系统之功能方块示意图。第二图(a)(b),其系被动式射频标签的功能方块示意图与等效电路图。第三图(a)(b),其系射频标签之习用非接触式测试功能方块示意图。第四图,其系本案为改善习用手段缺失所发展出来的射频标签测试器的立体结构示意图。第五图,其系为本案为改善习用手段缺失所发展出来的射频标签测试器的截面结构示意图。第六图,其系而本案之射频标签测试器的系统示意图。 |
