发明名称 液态胶流动的测试方法及测试装置
摘要 一种液态胶流动的测试方法,且特别是一种应用在半导体封胶作业的液态胶流动的测试方法及其测试装置。首先,提供一热源以及一流速模拟通道,该热源用以加热预先放置于流速模拟通道中的一胶体,使其到达半导体封胶作业所设定的预热温度。接着,再加热流速模拟通道,使其到达半导体封胶作业所设定的填胶温度。最后,让液态胶体流过此流速模拟通道,并测得液态胶的流速值,以作为实际上机操作时的参考依据。
申请公布号 TWI265280 申请公布日期 2006.11.01
申请号 TW094102281 申请日期 2005.01.26
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 古顺延
分类号 G01F1/708(2006.01) 主分类号 G01F1/708(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种液态胶流动的测试方法,适用于一半导体封胶作业中,该液态胶流动的测试方法包括下列步骤:提供一热源以及一流速模拟通道,而该热源配置于该流速模拟通道之下;放置一胶体于该流速模拟通道中,并加热该胶体,使其到达该半导体封胶作业所设定之预热温度;加热该流速模拟通道,使其到达该半导体封胶作业所设定之填胶温度;以及使该胶体流经该流速模拟通道,并计算该胶体所流经之距离以及时间,以得到一流速値。2.如申请专利范围第1项所述之液态胶流动的测试方法,其中该流速模拟通道具有一胶体预热区以及一水平刻度管,而该水平刻度管之起始端连通于该胶体预热区。3.如申请专利范围第2项所述之液态胶流动的测试方法,其中该热源包括一第一加热板以及一第二加热板,该第一加热板配置于该胶体预热区下,而该第二加热板配置于该水平刻度管下。4.如申请专利范围第1项所述之液态胶流动的测试方法,其中加热该胶体时,该半导体封胶作业之预热温度介于38度-70度之间。5.如申请专利范围第1项所述之液态胶流动的测试方法,其中加热该流速模拟通道时,该半导体封胶作业之填胶温度介于60度-95度之间。6.一种液态胶流动的测试装置,包括:一胶体预热区,用以放置半导体封胶作业之一液态胶;一水平通管,具有一起始端,其连通于该胶体预热区,以形成一流速模拟通道;一第一加热板,配置于该胶体预热区;以及一第二加热板,配置于该水平刻度管之下。7.如申请专利范围第6项所述之液态胶流动的测试装置,其中该胶体预热区与该水平通管一体成型。8.如申请专利范围第6项所述之液态胶流动的测试装置,更包括一隔热板,配置于该第一与第二加热板之间。9.如申请专利范围第6项所述之液态胶流动的测试装置,其中该水平通管具有一刻度尺,位于其管径上。10.如申请专利范围第6项所述之液态胶流动的测试装置,其中该水平通管之内径介于2-5公厘之间。图式简单说明:图1绘示本发明一较佳实施例之一种液态胶流动的试测方法的流程图。图2A-图2B分别绘示本发明一较佳实施例之一种液态胶流动的试测装置的示意图。
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号