| 主权项 |
1.一种倾角雷射尺系统,其包括:a)一光发射模组;b)一光接收模组;c)一耦合模组,连接所述之光发射模组及光接收模组;d)一倾角感测模组,该倾角感测模组可获得倾角雷射尺系统在水平方向的倾角讯号;e)一讯号处理模组,该讯号处理模组连接所述倾角感测模组、耦合模组、光发射模组及光接收模组,可接收各模组发出的讯号并进行运算;以及f)一显示幕,该显示幕连接所述之讯号处理模组,并将讯号处理模组之运算处理结果显示出来。2.如申请专利范围第1项所述之倾角雷射尺系统,其中:所述光发射模组系由雷射二极体及雷射二极体驱动件组成。3.如申请专利范围第1项所述之倾角雷射尺系统,其中:所述光接收模组包括崩溃光电二极体、基准崩溃光电二极体及滤波放大器。4.如申请专利范围第3项所述之倾角雷射尺系统,其中:所述崩溃光电二极体及基准崩溃光电二极体可将光讯号转换为电讯号,其中,崩溃光电二极体将雷射二极体发出的并经过被测物体反射的雷射光束转换为电讯号,基准崩溃光电二极体直接将雷射二极体发出的雷射光束转换为电讯号。5.如申请专利范围第1项所述之倾角雷射尺系统,其中:所述之耦合模组系包括一耦合器。6.如申请专利范围第1项所述之倾角雷射尺系统,其中:所述之讯号处理模组包括DSP晶片、可程式逻辑元件及压控振荡器。7.如申请专利范围第6项所述之倾角雷射尺系统,其中:所述压控振荡器驱动可程式逻辑元件产生振荡讯号。8.如申请专利范围第7项所述之倾角雷射尺系统,其中:所述耦合器耦合崩溃光电二极体及基准崩溃光电二极体产生之电讯号与振荡讯号,从而形成相位讯号。9.如申请专利范围第6项所述之倾角雷射尺系统,其中:所述DSP晶片包括一处理单元和一类比数位转换器。10.如申请专利范围第9项所述之倾角雷射尺系统,其中:该类比数位转换器可将倾角感测模组及光接收模组之讯号转化为数位讯号以供处理单元运算处理。11.一种倾角雷射尺系统之量测方法,包括以下步骤:a)讯号处理模组产生振荡讯号控制光发射模组发射出雷射光;b)光接收模组同时接收直接从光发射模组产生之雷射光束及经被测物反射回来之雷射光;c)耦合模组将光接收模组接收之讯号及讯号处理模组产生之振荡讯号耦合为相位讯号;d)讯号处理模组接收并处理相位讯号及倾角感测模组产生之倾角讯号;以及e)显示幕接收讯号处理模组之运算处理结果并显示。12.如申请专利范围第11项所述之倾角雷射尺系统之量测方法,其中:光接受模组包括崩溃光电二极体及基准崩溃光电二极体可将光讯号转换为电讯号,其中,倾角雷射尺系统通过崩溃光电二极体来接收经过被测物体反射的雷射光束,通过基准崩溃光电二极体直接接收光发射模组发出的雷射光束。13.如申请专利范围第11项所述之倾角雷射尺系统之量测方法,其中:所述之讯号处理模组包括DSP晶片、可程式逻辑元件及压控振荡器。14.如申请专利范围第13项所述之倾角雷射尺系统之量测方法,其中:系统利用压控振荡器产生振荡讯号来驱动可程式逻辑元件。15.如申请专利范围第13项所述之倾角雷射尺系统之量测方法,其中:所述DSP晶片包括一处理单元和一类比数位转换器,倾角雷射尺系统利用该类比数位转换器将倾角感测模组及光接收模组之讯号转化为数位讯号以供处理单元运算处理。图式简单说明:第一图系习知雷射尺距离测量装置在实际量测中的使用图示。第二图系依据本发明较佳实施例之倾角雷射尺系统之架构图。第三图系依据本发明较佳实施例之倾角雷射尺系统之原理图。第四A图系倾角雷射尺系统量测绝对水平距离之示意图;第四B图系倾角雷射尺系统进行扫描量测之示意图;第四C图系倾角雷射尺系统量测到垂直墙面距离之示意图;第四D图系倾角雷射尺系统量测两点间高度之示意图。 |
