| 主权项 |
1.一种积体电路测试系统之测试座(Test Head),系适用于一积体电路测试系统,该测试座系用以设置该积体电路测试系统之复数个测试板,该测试座包括:一中柱,系为一具有一外壁之圆柱结构,该外壁系设有复数个导槽,该复数个导槽系分别由该中柱之顶端朝向该中柱之底端开设,可分别提供该复数个测试板嵌入定位;一母板,系设于该中柱之底端,该母板具有一测试板面,该测试板面系垂直于该中柱,且朝向该中柱,该测试板面上系设有复数个母板插座单元,系用以分别连接于该复数个测试板;以及一取板装置,包括一定位件及至少一枢耳,该定位件系设于该中柱之顶端,且可沿该中柱之周圆作径向移动,该枢耳系枢接于该定位件,该枢耳系用以撬取该复数个测试板其中之一,使其与该复数个母板插座单元其中之一脱离。2.如申请专利范围第1项所述之测试座,其中该复数个测试板系分别设有一开口,该开口系朝向该中柱,当该测试板插设连接于该母板插座单元时,该开口系外露于该中柱。3.如申请专利范围第2项所述之测试座,其中该复数个测试板更分别设有一拉柄,该拉柄系设于该开口之相对边。4.如申请专利范围第1项所述之测试座,其中该中柱系为一具有一内壁之中空圆柱结构,该定位件系滑配于该内壁,并沿该内壁之周圆作径向滑动。5.如申请专利范围第4项所述之测试座,其中该定位件包括一环型结构。6.如申请专利范围第1项所述之测试座,其中该枢耳系可为一L型结构。7.如申请专利范围第1项所述之测试座,其中该枢耳具有一枢接部,该枢耳系以该枢接部枢接于该定位件,该枢耳系可以该枢接部为一支点进行转动。8.如申请专利范围第7项所述之测试座,其中该枢耳系被该枢接部区分为一施力端以及一撬取端,当该施力端被施加一外力,使该枢耳进行转动时,该撬取端系可插伸进入该开口,进而抵接于该测试板。9.如申请专利范围第1项所述之测试座,其中该测试座更具有一壳体以及至少一衔接板,该衔接板之二相对边系分别连接于该壳体之内壁以及该中柱。10.如申请专利范围第1项所述之测试座,其中该定位件更包括了至少一转接件,该转接件系凸伸出该中柱之顶端,该枢耳系枢接于该转接件上。11.如申请专利范围第1项所述之测试座,其中该母板更具有一待测板面,该待测板面系用以承载一积体电路单元。图式简单说明:图一系为一积体电路测试系统之外观示意图;图二系为习知技术之测试座之结构示意图;图三系为本创作所揭示之测试座之第一实施例之结构示意图;图四系为图三中A区域结构之放大示意图;图五系为本创作之测试板之一实施例之结构示意图;图六系为本创作所揭示之测试座之第二实施例之结构示意图;以及图七系为图六中B区域部分结构之放大示意图。 |
