发明名称 |
METODO OPTICO Y DISPOSITIVO PARA LA CUANTIFICACION DE LA TEXTURA EN CELULAS FOTOVOLTAICAS |
摘要 |
Método óptico y dispositivo para la cuantificación de la textura en células fotovoltaicas. El método y el dispositivo a que se refiere la patente resulta aplicable a aquellas morfologías de textura que se caracterizan por el desarrollo de motivos geométricos correlacionados en la superficie del substrato que soporta la célula fotovoltaica. Estas morfologías pueden ser formadas por diversos procedimientos, entre ellos el ataque químico del Si monocristalino, tanto con pirámides protuberantes como con pirámides invertidas. El método descrito también puede utilizarse para el estudio de otros grados de textura desarrollados en Si multicristalino y los presentes en las células de silicio policristalino depositadas sobre substratos previamente texturados con las condiciones antes mencionadas. Igualmente puede ampliarse a otros materiales que presenten patrones de textura similares.
|
申请公布号 |
ES2235608(B1) |
申请公布日期 |
2006.11.01 |
申请号 |
ES20030001666 |
申请日期 |
2003.07.15 |
申请人 |
CONSEJO SUP. DE INVEST. CIENTIFICAS |
发明人 |
ZALDO LUEZAS CARLOS ENRIQUE;ALBELLA MARTIN JOSE MARIA;FORNIES GARCIA EDUARDO |
分类号 |
G01B11/30;G01N21/47;G01N21/49 |
主分类号 |
G01B11/30 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|