发明名称 |
一种利用铜选择性淀积的大马士革工艺 |
摘要 |
本发明有关一种利用铜选择性淀积的大马士革工艺,在淀积扩散阻挡层和铜籽晶层后包括以下步骤,首先,淀积易挥发或可湿法去除的有机材料;接着,将过填的材料和未开槽区域的铜籽晶层及扩散阻挡层去除;然后,去除上述有机材料;然后,在沟槽及栓塞孔中进行铜淀积;最后,对突起的铜进行去除。由于采用本方法,大大减小了铜的化学机械抛光(CMP)的研磨量和所需的机械强度,且无需过研磨。从而使CMP后铜的凹陷最小化,并使表面平坦度得到提高。研磨量的减少和CMP机械强度的降低还会使与CMP相关的缺陷下降。 |
申请公布号 |
CN1855420A |
申请公布日期 |
2006.11.01 |
申请号 |
CN200510025457.9 |
申请日期 |
2005.04.27 |
申请人 |
上海华虹NEC电子有限公司 |
发明人 |
方精训;缪炳有;朱骏;朱建军 |
分类号 |
H01L21/768(2006.01);H01L21/3205(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/768(2006.01) |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 |
代理人 |
丁纪铁 |
主权项 |
1.一种利用铜选择性淀积的大马士革工艺,其特征在于:在淀积扩散阻挡层和铜籽晶层后包括以下步骤,首先,淀积易挥发或可湿法去除的有机材料;接着,将过填的材料和未开槽区域的铜籽晶层及扩散阻挡层去除;然后,去除上述有机材料;然后,在沟槽及栓塞孔中进行铜淀积;最后,对突起的铜进行去除。 |
地址 |
201206上海市浦东川桥路1188号 |