发明名称 一种利用铜选择性淀积的大马士革工艺
摘要 本发明有关一种利用铜选择性淀积的大马士革工艺,在淀积扩散阻挡层和铜籽晶层后包括以下步骤,首先,淀积易挥发或可湿法去除的有机材料;接着,将过填的材料和未开槽区域的铜籽晶层及扩散阻挡层去除;然后,去除上述有机材料;然后,在沟槽及栓塞孔中进行铜淀积;最后,对突起的铜进行去除。由于采用本方法,大大减小了铜的化学机械抛光(CMP)的研磨量和所需的机械强度,且无需过研磨。从而使CMP后铜的凹陷最小化,并使表面平坦度得到提高。研磨量的减少和CMP机械强度的降低还会使与CMP相关的缺陷下降。
申请公布号 CN1855420A 申请公布日期 2006.11.01
申请号 CN200510025457.9 申请日期 2005.04.27
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 方精训;缪炳有;朱骏;朱建军
分类号 H01L21/768(2006.01);H01L21/3205(2006.01) 主分类号 H01L21/768(2006.01)
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人 丁纪铁
主权项 1.一种利用铜选择性淀积的大马士革工艺,其特征在于:在淀积扩散阻挡层和铜籽晶层后包括以下步骤,首先,淀积易挥发或可湿法去除的有机材料;接着,将过填的材料和未开槽区域的铜籽晶层及扩散阻挡层去除;然后,去除上述有机材料;然后,在沟槽及栓塞孔中进行铜淀积;最后,对突起的铜进行去除。
地址 201206上海市浦东川桥路1188号