发明名称 Optical method and system for the characterization of integrated circuits
摘要
申请公布号 KR100641271(B1) 申请公布日期 2006.10.31
申请号 KR20027003782 申请日期 2002.03.22
申请人 发明人
分类号 G01B11/02 主分类号 G01B11/02
代理机构 代理人
主权项
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