发明名称 试片的检验区反应值侦测方法
摘要 本发明涉及一种试片的检验区反应值侦测方法,包括提供具有一显色图案的一试片,其中此显色图案经试片检验一受测液体而形成,此显色图案包括从试片底部至顶部排列成一系列的复数条显色线条,每一显色线条于试片的一位置相应试片的一检验区,撷取试片的整个影像,及从整个影像上沿着垂直此些显色线条影像的方向选择至少一条扫描线,设定此扫描线上具有一相对最小像素值的一像素位置相应试片的一底部边缘影像,以具有相对最小像素值的此像素位置当做一参考点及根据试片的此些显色线条系列,以决定每一显色线条于此扫描线上相应的一个别像素位置,以获得试片上每一检验区相应个别像素位置的一像素值的一反应值。
申请公布号 CN1281955C 申请公布日期 2006.10.25
申请号 CN02160803.2 申请日期 2002.12.30
申请人 宇东科技股份有限公司 发明人 王国任
分类号 G01N33/52(2006.01);G06K9/00(2006.01) 主分类号 G01N33/52(2006.01)
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人 陈肖梅;文琦
主权项 1.一种试片的检验区反应值侦测方法,其包括:提供一试片,具有一浅色底面及一显色图案形成于该浅色底面上,该显色图案是该试片检验一受测液体而形成,该显色图案包括从该试片底部至顶部排列成一系列的复数条显色线条,及每一该显色线条于该试片的一位置相应该试片的一检验区;撷取该试片的一整个影像;其特征在于,还包括:从该整个影像上沿着垂直该等显色线条影像的方向选择至少一条扫描线;设定该扫描线上具有一相对最小像素值的一像素位置相应该试片的一底部边缘影像;及以具有相对最小像素值的该像素位置当做一参考点及根据该试片的该等显色线条系列,以决定每一该显色线条于该扫描线上相应的一个别像素位置,由此以获得该试片上每一该检验区相应该个别像素位置的一像素值的一反应值。
地址 台湾省台北市