发明名称 随机存储器失效的检测处理方法及其系统
摘要 本发明公开了一种RAM失效的检测处理方法,应用于对CPU/DSP的RAM失效的检测处理,包括:读取所述RAM中的程序内容;将读取的程序内容与正确的程序内容进行比对,当两者不一致时,判断RAM失效并进行数据修复;或者将读取的程序内容采用设定的校验方法进行数据校验,并与正确的校验结果进行比对,当两者不一致时,判断RAM失效并报警。采用本发明方法,可及时检测CPU/DSP RAM失效的情况,及时采取相应的处理措施,将RAM失效引起的影响降到最低。
申请公布号 CN1851826A 申请公布日期 2006.10.25
申请号 CN200610001749.3 申请日期 2006.01.25
申请人 华为技术有限公司 发明人 李强
分类号 G11C29/00(2006.01);G06F11/28(2006.01) 主分类号 G11C29/00(2006.01)
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 代理人 郭润湘
主权项 1、一种随机存储器RAM失效的检测处理方法,应用于对中央处理器CPU/数字信号处理器DSP的RAM失效的检测处理,该方法包括:A、读取所述RAM中的程序内容;B、将读取的程序内容与正确的程序内容进行比对,当两者不一致时,判断所述RAM失效并进行数据修复;或者将读取的程序内容采用设定的校验方法进行数据校验,并与正确的校验结果进行比对,当两者不一致时,判断所述RAM失效并报警。
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