| 发明名称 | 用于直接观察待研究设备的电磁性能的消声室 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于研究天线或任何其它波发射或波接收设备的电磁性能的系统。所发明的系统包含消声室，其被设计成用于容纳一个这种待研究的电磁设备(10)，以及操作所述设备(10)的人。本发明还包含：至少一个分析天线(20)，其用于获取由待研究电磁设备(10)所发射或接收的波，以及用于处理来自所述分析天线(20)的输出信号的装置(30)。该系统还包含用于显示为待研究电磁设备(10)所产生的辐射图的装置(40)。本发明的特征在于，辐射图显示装置(40)被布置在消声室内，使得操作待研究电磁设备(10)的人能够直接观察他/她操作设备(10)对其中的电磁性能的影响。 | ||
| 申请公布号 | CN1853110A | 申请公布日期 | 2006.10.25 |
| 申请号 | CN200480027047.1 | 申请日期 | 2004.08.18 |
| 申请人 | 成像微波技术应用公司 | 发明人 | P·加罗;L·杜谢恩;P·O·艾弗森;A·冈杜瓦 |
| 分类号 | G01R29/10(2006.01) | 主分类号 | G01R29/10(2006.01) |
| 代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 程伟;王锦阳 |
| 主权项 | 1.一种天线或任何其它波发射或波接收设备的电磁性能的研究布置，其包含消声室，消声室被设计成用于容纳这种待研究电磁设备(10)，以及操作所述设备(10)的人，并且还包含至少一个设计用于获取由待研究电磁设备(10)所发射或接收的辐射的分析天线(20)，以及用于处理来自所述分析天线(20)的输出信号的装置(30)，其中，所述布置还包含用于显示为待研究电磁设备(10)所产生的辐射图的装置(40)，其特征在于，所述用于显示辐射图的装置(40)被布置在消声室内，使得操作所述待研究电磁设备(10)的人直接观察他操作设备对设备(10)的电磁性能的影响。 | ||
| 地址 | 法国艾松 | ||