发明名称 一种防止垂直腔面发射半导体激光器在湿法氧化时开裂的方法
摘要 一种防止垂直腔面发射半导体激光器在湿法氧化时开裂的方法:依次是将需要氧化的砷化镓晶片放置在氧化炉内腔的石墨块上,密封氧化炉,将水蒸气由氮气夹带通入到氧化炉内腔中,分三个升温时段加热氧化炉,使砷化镓晶片氧化后,关闭水蒸气通路,再经过降温时段、烘烤时段和自然冷却时段,最后关闭氮气通路,从氧化炉内取出氧化的砷化镓晶片。采用这种防止垂直腔面发射半导体激光器在湿法氧化时开裂的方法,操作过程的重复性高、稳定性好,在湿法氧化工艺过程中,开裂现象很少出现,质量稳定,成品率提高到95%以上。
申请公布号 CN1851992A 申请公布日期 2006.10.25
申请号 CN200610044192.1 申请日期 2006.05.18
申请人 中微光电子(潍坊)有限公司 发明人 蒋伟;刘凯;张彦伟;孙夕庆
分类号 H01S5/183(2006.01);H01S5/00(2006.01);H01L21/316(2006.01);H01L21/473(2006.01) 主分类号 H01S5/183(2006.01)
代理机构 潍坊鸢都专利事务所 代理人 杜希现
主权项 1、一种防止垂直腔面发射半导体激光器在湿法氧化时开裂的方法,其特征是依次包括以下的步骤:A、将需要氧化的砷化镓晶片放置在氧化炉内腔的石墨块上,再密封氧化炉;B、将温度为90℃-110℃的水蒸气由氮气夹带通入到氧化炉内腔中,水蒸气与氮气的体积比为1∶10-1∶15;C、第一次加热氧化炉,使氧化炉内腔在3分钟-5分钟时间上升到220℃±2℃,在该温度下保持10分钟-20分钟;D、第二次加热氧化炉,使氧化炉内腔在1分钟-3分钟时间上升到360℃±2℃,在该温度下保持5分钟-15分钟;E、第三次加热氧化炉,使氧化炉内腔在30秒-60秒时间上升到435℃±1℃,使砷化镓晶片氧化,保持该温度直至砷化镓晶片氧化到器件要求;F、氧化完成后,关闭水蒸气通路,在氮气保护条件下,对氧化炉吹风降温,使氧化炉内腔在1分钟-3分钟时间内降至215℃±2℃,在该温度下保持15分钟-25分钟;G、再次加热氧化炉,使氧化炉内腔在1分钟-3分钟时间上升到360℃±2℃,在该温度下保持10分钟-20分钟,对氧化炉内腔进行烘烤;H、对氧化炉自然冷却,使氧化烘烤后的砷化镓晶片在氮气保护条件下自然冷却至室温;I、关闭氮气通路,从氧化炉内取出氧化的砷化镓晶片。
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