| 主权项 |
1.一种USB介面之实体层结构,包括:一测试信号产生器,用以产生一测试信号;一测试信号取样装置,耦接于上述测试信号产生器,用以撷取上述测试信号,并经过既定延迟时间后,输出一测试取样信号;一传送端以及一接收端,耦接于一信号传输介面,用以分别存取上述信号传输介面所传送之资料;一USB收发处理介面,耦接于上述测试信号产生器以及上述传送端与接收端,用以根据USB协定处理上述测试信号,并经由上述传送端输出一第一处理信号,以及经由上述信号传输介面以及接收端接收上述第一处理信号,最后再处理上述第一处理信号而输出一第二处理信号;以及一比较器,耦接于上述USB收发处理介面以及测试信号取样装置,用以比较上述第二处理信号以及测试信号,当上述第二处理信号以及测试取样信号不同时,则输出一错误判定信号。2.如申请专利范围第1项所述之USB介面之实体层结构,其中上述既定延迟时间系根据上述USB收发处理介面所使用之USB协定而定。3.如申请专利范围第1项所述之USB介面之实体层结构,其中上述测试信号取样装置包括:一记忆装置,用以暂存上述测试信号;以及一时脉延迟装置,用以延迟上述测试信号达上述既定时间后,使得上述测试取样信号由上述记忆装置输出。4.如申请专利范围第1项所述之USB介面之实体层结构,其中上述测试信号以及第二处理信号为并列格式。5.如申请专利范围第4项所述之USB介面之实体层结构,其中上述第一处理信号为序列格式。6.如申请专利范围第5项所述之USB介面之实体层结构,其中上述USB收发处理介面系转换上述并列格式之测试信号为上述序列格式之第一处理信号,并将由上述接收端所接收之序列格式之第一处理信号转换为并列格式之第二处理信号。7.如申请专利范围第1项所述之USB介面之实体层结构,其中上述比较器更包括一致能端,当接收到代表执行USB介面之实体层测试动作之测试致能信号时,则上述比较器开始执行比较动作。8.如申请专利范围第7项所述之USB介面之实体层结构,更包括一序列介面引擎,耦接于上述USB收发处理介面,用以依据USB封包ID以及位址辨识逻辑而处理USB介面所传送之USB封包。9.如申请专利范围第8项所述之USB介面之实体层结构,其中上述测试致能信号系由上述序列介面引擎所输出。10.一种USB介面之实体层结构测试方法,适用于一USB收发处理介面以及耦接于上述USB收发处理介面且彼此耦接之传送端以及接收端,包括下列步骤:提供一测试信号至上述USB收发处理介面;撷取上述测试信号,经过既定延迟时间后,输出一测试取样信号;USB收发处理介面根据USB协定处理上述测试信号后经由上述传送端输出一第一处理信号,接着经由上述接收端接收上述第一处理信号,最后再处理上述第一处理信号而输出一第二处理信号;以及比较上述第二处理信号以及测试信号,当上述第二处理信号以及测试取样信号不同时,则输出一错误判定信号。11.如申请专利范围第10项所述之USB介面之实体层结构测试方法,其中上述既定延迟时间系根据上述USB收发处理介面所使用之USB协定而定。12.如申请专利范围第10项所述之USB介面之实体层结构测试方法,其中上述测试信号以及第二处理信号为并列格式。13.如申请专利范围第12项所述之USB介面之实体层结构测试方法,其中上述第一处理信号为序列格式。14.如申请专利范围第13项所述之USB介面之实体层结构测试方法,其中上述USB收发处理介面系转换上述并列格式之测试信号为上述序列格式之第一处理信号,并将由上述接收端所接收之序列格式之第一处理信号转换为并列格式之第二处理信号。图式简单说明:第1图系显示传统USB介面之电路方块图。第2图系显示根据本发明实施例所述之USB介面之实体层之电路方块图。第3图系显示根据本发明另一实施例所述之USB介面架构之区块图。第4图系显示根据本发明另一实施例所述之USB介面测试方法之操作流程图。 |
